利用图像处理的粒度分布与颗粒分析
以往的颗粒及粒度分析使用激光散射式颗粒分析仪或显微镜。此外，近年来随着CMOS拍摄元件及镜头精度、照明技术、图像处理技术的进步，也有使用高性能数码显微系统的情况。
新型数码显微系统不仅具备高画质，还配备了利用图像二值化的颗粒抽取及定量化、测量条件再现等满足各种需求的丰富功能。
下面我们将为您介绍使用新型4K数码显微系统的粒度分布及颗粒分析课题解决案例。
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利用图像处理的粒度分布与颗粒分析是什么
“图像二值化”是指将具有灰度级的图像转换为黑白图像的处理。设定任意的阈值，并与各像素值进行比较，当大于阈值时转换为黑，小于阈值时转换为白。另外，还可以指定进行二值化的范围。
进行图像二值化后，可进行从必要部分仅获取黑或白信息的处理，从而使颗粒分析更加容易且高速。
使用新型4K数码显微系统的粒度分布及颗粒分析案例
经典激光束绕射及散射法*未能定量分析事实顆粒。其它，通过光学显微镜实施定量分析时要要熟悉度，也很难复现拍摄视频前提。且，需用施用别的软件下载定量分析拿的数据显示。 合理利用4K电子数码显微模式“VHX系”对其来粒度阐述匀称及科粒阐述时，在观查事实上科粒的同一，可对其来各方面精确测试。所以，依据形象二值化对其来自己使用面积精确测试、拍摄技巧更改逆转及调整时，必须测量员工的要熟悉并熟练度，简洁工作就好做好。激光绕射及散射法
是指利用激♛光照射进行粒度分布及颗粒分析。利用散射光强度与颗粒数量成正比的规律性以🌌及颗粒大小与光散射绕射模式的相关性的测量分析法。
自动面积测量
能够简单进行指定范围内的目标物面积测量与计数。使用图像的亮度及颜色进行二值化，还可计算面积、最大直径、最小直径等参数，并剔除多余目标物或分离重合的目标物。另外，可使用过去测量的图像数据，在相同条件下进行分析。
并且，可将测量值以表格或柱状图形式输出，从而能够定量掌握粒度分布特征。
拍摄设定再现与校正
通过电子显微镜观察分析时，易于回归以前的拍状况（照明灯具、快门时间、白平衡性等）相应通过二值化时的图文外理及效正等测定状况。 4K科技显微体系“VHX型号”则只需从空间相册取舍已存储的图案，既可以重演过来的外景拍出人设。如果加测技术人员影响或时刻时光流逝后，能不能够以与上星期不同的外景拍出的条件采取关注。
- A. 高分辨率HR镜头
- B. 电动镜头转换器
观察、拍摄、测量只需1台设备
使用高精细4K数码显微系统“VHX系列”，能够进行高效化作业，实现消除人为误差的正确测量及分析。
利用由先进光学技术、图像处理技术及自动化技术共同实现的高精细4K图像，可以清晰观察涂膜及起粒、分散的详细情况。而且无需进行高难度操作，即使是尚未熟练掌握设备使用方法的人员，也能快速得出高水准的分析结果。
还能利用“报告功能”，将拍摄、测量所得的数据导出为统一格式的简单报告，在企业内部服务器等平台上共享数据。不仅能满足工业标准、确保品质，还能查明涂装缺陷发生的原因，协助改良工序等。
“VHX系列”还配备了许多其他新功能，在确保涂装、涂膜品质及可靠性方面能够成为非常重要的伙伴。
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