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微粒/清洁度测量

随着的品质标准的增长,制止在分娩整个过程被静态颗粒造成的污染正会变得空前重点。

照明方法

除了具有适当亮度和高分辨率的镜头,选用适当的照明方法是至关重要的。环状照明同轴落射照明均适用于物体的细致检测。当使用数码显微系统对低反射率或半透明目标物进行微粒/清洁度测量时,应优先选择透射照明。如果反射率较高,产生光泽,可采用扩散照明,以清晰辨别微粒/污染物与目标物。通过片射照明改变照明方向会有助于显示外来微粒。最后,如果只有通过透明物体才能观察目标物,可采用偏光照明

微粒/清洁度测量主要照明方法原理图(从左上角到右下角):环状照明、同轴落射照明、透射照明和扩散照明
A
光源
B
镜头
C
目标物
D
单向透视玻璃
A
光源
B
镜头
C
目标物
D
磨砂玻璃滤光片

welcome购彩大厅用户注册 :基恩士数码显微系统具有多方位多功能照明功能,可将拍摄的图像中的照明数据保存下来。因此,用户可改变图像照明,无须重新拍摄物体图像。
基恩士数码显微系统具有环形反射减少功能,可进行更细致的微粒/清洁度测量。

多方位多功能照明功能模式下的微粒/清洁度测量

微粒/清洁度测量

通过基恩士的多方位观测技术,用户可准确判断外来微粒处于表面上方或下方。这降低了测量难度,有利于快速制定潜在解决方案。

从表面视图(左)或以特定角度观察外来微粒

外来微粒3D成像是制定解决方案的另一途径。测量时,3D数据有助于确定问题的根源在于划伤还是外来微粒造成的污染。

通过测量外来微粒进行量化分析

在观擦并拍色其他粒子后,基恩士手机数码显微设计可实时更新确定各项正等轴测图和3D在线测量,并经过文内容处理或电子器件和表格应用行成统计。
作为清洁度测量的一部分,直接在实时图像中进行测量(左),并使用报告
基恩士数码图文显微装置可理论依据ISO 16232和VDA 19等标准的的的规定,通过粒子/洁净度量测。借助最新的成相效果,该电子显微镜就可以通过高准确度量测,量测的精密度相当于1 µm。

索引

tcm:115-2008291-64