形态检测的离子束显微软件
VK-X3000 型号
图形测量方法智能机械显微机系统 VK-X3000 国产
搭载白光干涉功能
纳米/微米/毫米一台即可完成测量
超过激光器光学显微镜的禁止，以双重扫码具体方法因对
- 一台即可测量纳米/ 微米/ 毫米
- 一台即可了解希望获取的信息
- 最高分辨率0.01 nm
用了双重扫锚习惯，巧用机光共聚交、白光灯抵触、聚交变化无常等三类的不同的扫锚操作过程，高系数和低系数，平面磨、高低不平从表面的明显光滑度，还有弧面体，透明色体等。VK享用对待三种样品管理的检测的功能（从 1 nm 到 50 mm），nm/微米换算/mm毫米几台做好检测的。
产品特性
激光显微系统的基本特点
观察
- 42 至 28800 倍
- 无需对焦
- 适用于多种样品
测量
- 不会损伤目标物
- 纳米级别也可准确测量
- 透明体和坡度大的目标物也可测量
分析
- 定量化微小形状
- 轻松比较多个样品
- 粗糙度分析
三重扫描方式
解决“难以测量”的难题
可依据检样产品的素材、线条和检测面积，选择二氧化碳激光共聚交、白光灯抵触、聚交变化规律等三个有差异 的扫描机作用，做好高精确度检测。
最高分辨率0.01 nm
即使是纳米级的微小形状变化也能准确测量。
此外，如镜面体、透明体等测量难度高的材料也能实现高速、高精度、大范围的测量。
连高度差较大的凹凸处
和大范围区域也能测量
最大扫描区域50 mm见方。
凹凸不平或手掌大小的物体也能整体扫描。
只需一台设备，即可同时掌握整体形状和局部形状。
精确测量高倍率和低倍率。平面和凹凸面。
应主要用于各项的目标物的测量方法工作能力
