粗糙度测量 / 激光显微镜

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产品阵容

VK-X3000 系列 - 形状测量激光显微系统

进行了四重扫码具体方法，运营离子束共准确把握、白炽抵触、准确把握变迁等三种方法有差异的扫码远离，高功率和低功率，立体图、凸凹表皮的细碎有粗糙度，或者鏡面体，透明体体等。VK赋予要对许多仿品的测试作用（从 1 nm 到 50 mm），奈米/μm/分米每台提交测试。

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