粗糙度测量 / 激光显微镜
仅必须要在软件设置好打样定制后单击既能自己检测的激光器电子显微镜通过关察。包括1台既能涵盖光电技术电子显微镜通过关察到SEM行业领域的通过关察力、不经意间精确扫码各式各样各样的方向物图形的检测力、雄厚的研究数据分析机器等结构特征,可符合通过关察、检测、研究数据分析等各式各样各样的要。
产品阵容
产品特性
激光显微系统的基本特点
观察
- 42 至 28800 倍
- 无需对焦
- 适用于多种样品
测量
- 不会损伤目标物
- 纳米级别也可准确测量
- 透明体和坡度大的目标物也可测量
分析
- 定量化微小形状
- 轻松比较多个样品
- 粗糙度分析
三重扫描方式
解决“难以测量”的难题
可会按照样机镗孔的原料、图案和预估时间范围,决定激光束共凝聚、白灯干扰、凝聚变换等哪几种差异的检测方式,进行高准确度预估。