白光干涉位移传感器

白光灯干涉现象位移计（3D）是向測量地域以“面”射出光的位移计。基本上不会轴类零件金属材质及配色的决定而面的光开始同轴測量，故此不再次发生因狹窄位址或凹型边沿等各个凹凸外观遮住条件光线的具体情况。能使用弧度问题开始弧度差、屏幕宽度匹配、弧度、大小、干硬度、比较平整度等繁多測量。

在线下载厂品总目录

产品阵容

WI-5000 系列 - 干涉式同轴 3D 位移测量仪

利用白灯抵触原因，可实现了公路、精度等级的3D量测。能够从程度差/体积太量测等的量测到高宽比/表面积等不同量测。

的目录 产品报价咨询服务