分光干涉式激光位移计

产品阵容

SI-T 系列 - 分光干涉位移型多层膜厚测量仪

改变三层膜厚, 使用近红外光・没威害, 实时视频免费在线测试,一秒钟1000次的取样速率,为现下膜厚侧量仪的给予新的应该性。

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SI-F 系列 - 微型传感头型分光干涉式 激光位移计

产业界超细碎型感应器器头,非常高计算精度,搞定了内部设置電子零件加工感应器次的低热难题,也是受电磁炉躁声影晌。

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SI-F80R 系列 - 分光干涉式晶片厚度计

应用近红外 SLD,既然已贴附 BG 带也可精确测量方法晶片客观来源于的体积尺寸。既然晶片表面层来源于随着花纹图案而造成的同质性差异性,也可保持正确的加工网上营销精确测量方法。

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