分光干涉式激光位移计

产品阵容

SI-T 系列 - 分光干涉位移型多层膜厚测量仪

推动多层高层膜厚, 利用近红外光・没了导致, 实时路况在线视频监测,秒钟1000次的采样系统平率,为现今膜厚校正仪的作为新的应该性。

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SI-F 系列 - 微型传感头型分光干涉式 激光位移计

产业界超微细型传调节器器头,超低精确度,处理好了原机手机加工零件传调节器次的变烫困难,也不是受电磁波躁声影响力。

文件名 价值咨询公司

SI-F80R 系列 - 分光干涉式晶片厚度计

运用近红外 SLD,就算已贴附 BG 带也可检测晶片客观会有的壁厚。就算晶片表皮会有伴随图案设计而发生的明显相互影响,也可达到精确性的生产销售线上渠道检测。

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