分光涉及位移型高层膜厚检测的仪
SI-T 产品系列
分光抵触位移型三层膜厚测定仪 SI-T 系列的
从单层到多层，可以实现在线稳定测量
要求“易用性”，使引入让人觉得愈来愈很简单。容合 KEYENCE 的智能机械位移计和分光干扰计，优化了当今世界膜厚预估仪的传统意义产品概念。
产品特性
粘附层也可以稳定测量
借助 KEYENCE配备的光量累计功能，
类似粘附层等粗糙的表面，也可以实现稳定测量。
实现广范围测量
在拉伸弹簧工艺等的过程 中，可应运于中上游至中下游的种种地点。
针对测量场景量身定制的阵容
多层位移测量型 SI-T10
长距离厚度测量型 SI-T80
应用
在制程内测量基材厚
涂布后的湿膜厚度测量
