形状图片大全精确测量脉冲光显微操作系统 VK-X3000 产品系列

形状图片大全检测离子束显微系统性 VK-X3000 款型

搭载白光干涉功能
纳米/微米/毫米一台即可完成测量

跨越机光高倍显微镜的受限，以三种复印办法对于

VK-X3000 系列 - 形状测量激光显微系统

按照了三类扫锚方法，采用离子束共瞄准、白灯干预、瞄准发生变化等三类区别的扫锚机制，高倍数和低倍数，平面磨、坑坑洼洼外层的细碎凹凸不平度，同时雾面体，透明化体等。VK享有处置三种供试品的在线测试学习能力（从 1 nm 到 50 mm），纳米技术/μm/亳米每台顺利完成在线测试。

从光学材料显微镜观察到SEM层面买台设备涉及到

非触碰一下子复印外观

期待理解的的表面“的差异”简洁明了

白光干涉 / 激光共聚焦 / 聚焦变化

可结合打样定制类件的原料、形状图片大全和测定范围图，确定激光机器共凝焦、白光灯打搅、凝焦转变等四种多种的检测目的，来高精密度测定。

即使是纳米级的微小形状变化也能准确测量。
此外，如镜面体、透明体等测量难度高的材料也能实现高速、高精度、大范围的测量。

最大扫描区域50 mm见方。
凹凸不平或手掌大小的物体也能整体扫描。
只需一台设备，即可同时掌握整体形状和局部形状。

实适用各项方向物的校正意识