图型检测的机光显微程序
VK-X3000 品类
图案检测机光显微系統 VK-X3000 类别
搭载白光干涉功能
纳米/微米/毫米一台即可完成测量
逾越激光束光学显微镜的受限，以双重测试的方式对于
- 一台即可测量纳米/ 微米/ 毫米
- 一台即可了解希望获取的信息
- 最高分辨率0.01 nm
用到了三种方法扫锚方法，运作激光行业共精准定位、白光灯干涉现象、精准定位影响等三种方法有差异 的扫锚原里，高倍数和低倍数，平面设计、高低不平表明的微小很糙度，各类雾面体，明亮体等。VK具有对于多种不同印刷品的精确测量方法效率（从 1 nm 到 50 mm），nm/2um/mm每台完整精确测量方法。
产品特性
Basic Characteristics
观察
- 42 至 28800 倍
- 无需对焦
- 适用于多种样品
测量
- 不会损伤目标物
- 纳米级别也可准确测量
- 透明体和坡度大的目标物也可测量
分析
- 定量化微小形状
- 轻松比较多个样品
- 粗糙度分析
三重扫描方式
解决“难以测量”的难题
可各个印刷品零部件的资料、造型和测试标准，决定激光手术共精准定位、白灯干涉现象、精准定位转变 等三大各个的扫描仪基本原理，开始高精准度测试。
最高分辨率0.01 nm
即使是纳米级的微小形状变化也能准确测量。
此外，如镜面体、透明体等测量难度高的材料也能实现高速、高精度、大范围的测量。
连高度差较大的凹凸处
和大范围区域也能测量
最大扫描区域50 mm见方。
凹凸不平或手掌大小的物体也能整体扫描。
只需一台设备，即可同时掌握整体形状和局部形状。
精确测量高倍率和低倍率。平面和凹凸面。
适于于各种类型梦想物的衡量意识
