分光干涉现象位移型四层膜厚測量仪
SI-T 系例
调节器器头 很多层变位检测型 SI-T10
规格
规格型号 | SI-T10*1 | |||
结构类型 | 两层位移校正型 传感器头 | |||
分光标段 | SI-T10U | |||
在测量条件 (弯折率n=1) | 0.01 到1.0 mm | |||
学习路程 | 9 mm*2 | |||
检测的用led灯光 | 红外SLD , 传输1 mW , 1 类皮秒激光品牌(IEC60825-1) | |||
散射网套直径 | ø30 µm*3 | |||
规则化度 | ±0.3 µm*4 | |||
判断率 | 0.01 µm (0.25 µm)*5*6 | |||
监测周期性 | 1 ms | |||
LED凸显 | 要求紧邻量测机构:绿光。要求在量测比率内:橙光。要求在量测比率外:橙光一闪一闪。 | |||
工作环境抗耐心 | 金属外壳加固级 | IP64 | ||
的环境阳光照射 | 节能灯管、荧光灯:10000 lux 下例 | |||
工作外部温度因素 | 0 到+40°C | |||
相绝对湿度 | 35 到85%RH(无冷凝器) | |||
抗震烈度性 | 10 到55Hz,XYZ 方向上1.5 mm | |||
原料 | SUS304 | |||
总重量 | 约 70g (含接线图) | |||
*1 传感头和分光单元已经配套调整完毕。无兼容性。 |