图行测试离子束显微装置 VK-X 品类

本型号已停产。
产品符合从我司发货时的认证标准。

介绍混用产品的: 测量头 - VK-X3100

测定头 (紫光电器件激光束) VK-X1100

VK-X1100 - 测量头 (紫色半导体激光)

*请考虑,图片大全中的配饰能够不属于在好产品中。

  • CE 标志概述
  • CSA

规格

产品型号VK-X1100
多种类型量测头
整体系数

28,800 倍以下*1

视线中 (最高视线中面积)11 µm 至 7,398 µm
帧率 (智能机械测量方法速度快)

4 至 125 Hz、7,900 Hz*2

检测的基本原理电子光学体系针孔共凝焦光学材料装置、微距
光发送电子器件16 bit 感应式光电技术增涨器、高精致化五彩CMOS

扫描方式
(常规测量时及图像拼接时)

电脑自动左右两限人设工作表、快速光量最宜化工作表 (AAGII)、漫被反射的光量欠缺添加工作表 (双扫苗)
角度测定显现辨别好坏率0.5 nm
平滑表尺

动态量程
(来自工件的光接收量的适用幅度)

16 bit
连续表面粗糙度σ离子束共集聚20 倍 : 40 nm、50 倍 : 12 nm
光学变焦5 倍 : 500 nm、10 倍 : 100 nm、20 倍 : 50 nm、50 倍 : 20 nm
超高数据报告得使用范围70 万过程
明确性

0.2 + L/100 µm 或更小 (L = 测量长度 µm)*3

高度在线测量屏幕上显示判定率1 nm
重复使用精度等级 3σ激光行业共集焦20 倍 : 100 nm、50 倍 : 40 nm
调焦5 倍 : 400 nm、10 倍 : 400 nm、20 倍 : 120 nm、50 倍 : 50 nm
更准性

测量值±2 % 以内*3

XY 载物台构造人工操作 执行范围之内70 mm x 70 mm
直流电动 自动运行空间100 mm x 100 mm
观擦画面高精致黑白CMOS 颜色图形、16 bit 脉冲光黑白共视点颜色图形、共视点 + ND 滤波器光学玻璃控制系统、C - 脉冲光微分抵触颜色图形
光照环状光照、同轴落射光照
检测的用激光器灯源光波长深紫色半导体材料激光行业 404 nm
大所在1 mW
激光机器成品2 类机光产品设备 (GB7247.1)
供电24v电源电流值100 至 240 VAC、50/60 Hz
使用电流大小150 VA
含水量约 13.0 kg

*1 23 寸显示器画面上的倍率 (全屏显示器时)。
*2 测量模式/测量品质/镜头倍率的组合中、取最快的一组组合时。线扫描的情况下、测量间距小于 0.1 µm 时。
*3 使用 20 倍以上的镜头测量标准样品 (标准刻度) 时。

工艺尺寸(PDF) 另一个产品型号